1993年，Fischer和Pschunder發現在摻硼P型CZ－Si的電池在光照條件下，會發生效率衰退，其衰減為總效率的2-3%左右，並將定義為光致衰減現象（LID）。LID衰減速度很快，在幾天內就可以達到飽和，其產生機制主要是矽材料內的硼氧(B-O)缺陷對。

　　2012 年，有國外研究發現，PERC多晶矽太陽電池中除存在光致衰減(LID) 之外，還存在“熱輔助光誘導衰減”（Light elevatedTemperature Induce Degradation，LeTID）， LeTID 現象會隨著環境溫度的升高而加強，與傳統LID 現象的特性有所不同。

 　　2017年，國際上一些研究單位開展了進一步的研究，一個比較重要的發現是PERC 單晶矽太陽電池同樣也存在 LeTID 現象。Q-Cell 公司在2017 年報道了其 PERC 單晶矽太陽電池的LeTID 結果，雖然該電池使用常規的 B-O 對穩定工藝可在 25 ℃時使電池的衰減趨於穩定，但是在 75 ℃時其光致衰減仍會明顯增加。

　　LID與LeTID兩者區別：

　　中國可再生能源學會光伏專業委員會在《2018 年中國光伏技術發展報告》（5）對LID和LeTID的區別進行了總結。具體如下：

LeTID功率衰減：

　　2019年9月，Fraunhofer 實驗室MatthiasPander團隊公開發表了《Prediction of potential power/field lossfrom LeTID susceptible modules》，論文對LeTID組件的功率衰減進行了詳細的研究，如下圖為經過690h測試後的單晶PERC組件EL照片，組件內部的電池亮度均勻性變差，部分電池已經呈現性能衰減。

在實驗室環境下，高溫度和強輻射會大大加速功率衰減，因此衰減速度與地理位置密切相關。高溫通常定義在50℃以上，文中對LeTID敏感組件的測試地理環境分成3等級，中性moderate (一年環境溫度約1 % 的時段在 50 °C以上)、溫暖warm (一年環境溫度約5% 的時段在50 °C以上)和炎熱 hot (一年環境溫度約15% 的時段在 50 °C以上)。

 　　結果如圖所示，在炎熱地帶，年發電損失約達到5%，當達到最大衰減以後，第7年以後組件在熱輔助的作用下開始功率恢復，但是恢復的程度有限，需要花費的時間也很長，如圖則需要10年以上。在溫暖地區，第5年功率衰減達到4%左右。在中性氣候地區，影響較小。

另外Friederike Kersten在論文《System performance loss due to LeTID》公開報導戶外測試結果，安裝場地位於賽普洛斯，氣候較為溫暖，使用多晶PERC電池組件，運行三年以後的最大衰減為7%左右。

　由於LeTID組件容易受環境溫度影響，因此對於光伏電站建設，需要根據當地的氣候環境進行選型，對於炎熱地區，最好使用具有第三方認證的抗LeTID組件。

http://guangfu.bjx.com.cn/news/20191113/1020672.shtml 來源:坎德拉學院